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MAP产品更换的首片晶圆由()确认参考点

MAP产品更换的首片晶圆由()确认参考点

A、作业员+生产组长

B、生产组长+生产组长

C、作业员+作业员

D、生产组长+领班

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更多“MAP产品更换的首片晶圆由()确认参考点”相关的问题

第1题

生产组长在更换MAP产品时需要()

A.扫描条码调取正确的mapping程序

B.核对mapping文件名包括批号

C.片号

D.map旋转方向

E.参考点

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第2题

上芯加工MAP产品时,更换晶圆时由()核对

A.生产组长

B.操作员

C.不核对

D.领班

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第3题

每片晶圆调取MAP后,需要核对()

A.WAFERMAPPING批号与实际晶圆批号一致

B.中测单中BIN的数目应与设备上所显示的BIN数目一致

C.中测单中芯片数与MAP中BIN的数目

D.MAP旋转角度与晶圆统计表中角度是否一致

E.文件名及编号与实际加工片号一致

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第4题

更换产品后的第一条产品由()做首检确认

A.首检人员

B.生产组长

C.作业员本人

D.本区域其他作业员

E.品管员

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第5题

关于参考点根据晶圆的实际情况可以设置1到4个参考点。通常情况下要求设定()个参考点为宜。

A.1

B.2

C.3

D.4

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第6题

参考点应尽量选择晶圆对角线上的(),并在上面用打点笔做上标记便于寻找

A.特殊坏芯片

B.白板芯片

C.墨点片

D.边缘片

E.好芯片

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第7题

上芯完退库兰膜在烘烤时,每个提篮中最多放置不超过()片晶圆,且各片晶圆之间应保持槽以上的间隔。

A.3

B.4

C.5

D.6

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第8题

一片晶圆加工完后,作业员在晶圆上芯数统计表中,记录(),并核对与晶圆。中测单上数目是否一致。

A.晶圆上的芯片数量

B.晶圆实际加工芯片数

C.晶圆批号

D.晶圆片号

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第9题

参考点与机床原点的相对位置由Z向与X向的()挡块来确定。

A.固定

B.液压

C.机械

D.铸铁

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第10题

背金属芯片,整片晶圆芯片背金属脱落超过()为不良
背金属芯片,整片晶圆芯片背金属脱落超过()为不良

A、0.05

B、0.1

C、0.15

D、0.2

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第11题

以下属于上芯作业员填写的记录和表单是()。

A.晶圆上芯数统计表

B.工艺参数监控记录

C.顶针更换记录

D.首检记录

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