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[判断题]

THDS(哈科所)红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。()

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更多“THDS(哈科所)红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。()”相关的问题

第1题

THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的()控制的。
THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的()控制的。

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第2题

THDS(哈科所)红外轴温探测系统光子探头静态轴温正常值是-5V±1.0V。()
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第3题

THDS(哈科所)红外轴温探测系统,光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。()
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第4题

THDS(哈科所)红外轴温探测系统,光子探头的静态噪声超过100毫伏时应更换探头。()
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第5题

THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统制冷电流不稳定容易造成探头测温() 。
THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统制冷电流不稳定容易造成探头测温() 。

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第6题

THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时,可能是 () 造成的。
THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时,可能是 () 造成的。

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第7题

THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统探头温控板是控制()温度的电路板。
THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统探头温控板是控制()温度的电路板。

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第8题

THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变,容易造成探头碲镉汞器件的灵敏率()。
THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变,容易造成探头碲镉汞器件的灵敏率()。

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第9题

THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统当环境温度变化过大而使器件温度不能稳定在该温度时,再重新设置 ()。
THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统当环境温度变化过大而使器件温度不能稳定在该温度时,再重新设置 ()。

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第10题

THDS(哈科所)红外轴温探测系统,在热靶标定结束之后至系统标定结束之前,如果发现内探元温变化2度以上,则需重新做内探热靶标定。()
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