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[主观题]

锑化铟的禁带宽度Eg=0. 18eV,相对介电常数εr=17,电子的有效质量mn+= 0. 015m, m0为电子的惯性质量,求①施主杂质的电离能,②施主的弱束缚电子基态轨道半径。

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第1题

若半导体材料的禁带宽度为Eg,要产生光电效应,必须符合()
若半导体材料的禁带宽度为Eg,要产生光电效应,必须符合()

A.hfhf>Eg

B.hf=Eg

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第2题

下列材料中,不适宜制作霍尔元件的是()。

A.金属

B.N型锗

C.N型锑化铟

D.N型砷化铟

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第3题

因材料温度系数的不同,由GaAs(砷化镓)半导体材料制作的霍尔元件适合选用恒流驱动方式;而由InSb(锑化铟)半导体材料制作的霍尔元件适合选用恒压驱动方式。()
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第4题

CIS的禁带宽度为(),是与太阳能电池最适宜的禁带宽度1.4ev偏小的值
CIS的禁带宽度为(),是与太阳能电池最适宜的禁带宽度1.4ev偏小的值

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第5题

材料的禁带宽度,最大的是()

A. 金属;

B. 杂质半导体;

C. 绝缘体;

D. 本征半导体;

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第6题

为了实现串联结构,有必要在部开发禁带宽度更广的()。
为了实现串联结构,有必要在部开发禁带宽度更广的()。

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第7题

关于本征吸收,以下说法正确的是?()

A.是电子从价带到导带的跃迁,产生电子-空穴对

B.产生本征吸收的条件是入射光子能量大于等于材料的禁带宽度

C.是电子从导带到价带的跃迁,并伴随发射光子能量

D.产生本征吸收的条件是入射光子能量小于等于材料的禁带宽度

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第8题

反向饱和电流的大小主要决定于半导体材料的种类、掺杂浓度和温度。半导体材料的禁带宽度越大,则ni越大,反向饱和电流就越大。()
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第9题

关于反向饱和电流密度,以下说法中错误的是()

A.p-n结两边掺杂浓度相差较大时,反向饱和电流密度主要由掺杂浓度较低的一侧贡献。

B.在一定温度下,与Si材料相比,GaAs具有较小的有效态密度和较大的禁带宽度,所以GaAs可获得更低的反向饱和电流密度。

C.p-n结两边掺杂浓度越高,越有利于降低反向饱和电流密度。

D.与半导体中的载流子寿命、扩散长度、导带价带的有效态密度、掺杂浓度以及禁带宽度有关。赋予他们恰当值可以得到较大的VOC。

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第10题

在同质结结构中,为了得到20%以上的高效率,必须让结合深度在()以下的浅层处,因此在异质表面结构中,通入插入宽禁带宽度的窗层,增加结合深度高定的自由度,就可以实现高效率。
在同质结结构中,为了得到20%以上的高效率,必须让结合深度在()以下的浅层处,因此在异质表面结构中,通入插入宽禁带宽度的窗层,增加结合深度高定的自由度,就可以实现高效率。

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